디스플레이 패널의 다양한 테스트 및 검증을 위해, 디스플레이 패널의 전용 인터페이스에 맞춰 패널을 점등 시키고, 다양한 검사 패턴 이미지를 생성/전송 하여 패널을 점등 시키는 장비입니다.

다양한 디스플레이 인터페이스( MIPI-C PHY, MIPI-D PHY, LVDS, eDP, A**DP, *Pdi 등 )의 OLED 패널을 지원합니다. 안정적인 PG(Pattern Generator)를 이용해 패널 개발부터 , In-Line 생산, Off-Line 검사 솔루션 구축까지 통합적으로 지원합니다. 

디스플레이 패널의 수명을 평가하기 위한 테스트 장비로, 장시간 동작 시의 패널의 내구성을 확인하기 위한 장비 입니다.

항온 챔버 내에서 장시간 동안 패널의 전류 소모 변화도, 패널의 휘도(밝기) 변화, 패널 온도 변화를 측정합니다. PG(Pattern Generator)를 이용하여 OLED 패널의 점등 시, 수명 주기 성능, 기능, 안정성 등을 평가하여, 패널 수명 평가를 통해서 제품의 품질 및 신뢰성 확보를 지원합니다. 

디스플레이 패널 개발시 다양한 검사를 연구소에서 수행 할 수 있도록 복합적으로 구성한 장비 입니다. 

하나의 장비내에 OLED 패널에 다양한 패턴 이미지를 점등 시킬 수 있는 PG(Pattern Generator), OLED 패널의 온도 변화 환경을 구성할 수 있는 Cold Plate, OLED 패널의 각 구성품 (패널, PCB, IC류)의 온도를 측정할 수 있는 Thermocouple, OLED 패널의 점등 영상의 변화 (휘도 균일도, 잔상 등)을 검사하기 위한 고성능 비전 카메라가 복합적으로 구성 되어있어,  개발시 다양한 검사 환경을 지원 합니다.  

디스플레이 패널의 품질을 평가 하기 위한 테스트 장비로, 장시간 고정된 패턴 이미지를 점등 후에, 고정된 패턴의 잔상의 변화를 측정 합니다.

PG(Pattern Generator)를 통한 점등 기술 뿐만 아니라, 패널의 잔상의 변화를 측정 하기 위해, OLED 패널 검사용 고성능 비전 카메라(Radiant Camera)를 적용한 복합 기술이 접목된 장비로 패널의 품질 평가 확보를 지원 합니다.